菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X 射線鍍層測厚儀

菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X 射線鍍層測厚儀

核心功能與技術優(yōu)勢

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 是一款高精密能量色散型 X 射線熒光（EDXRF）檢測設備，專為鍍層厚度測量、材料成分分析及溶液分析設計，支持無損檢測，廣泛應用于質量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。其核心技術亮點包括：




• 測量原理：基于 X 射線熒光光譜法，結合自動聚焦功能，確保樣品完整性與測量精度，無需破壞被測物。

• 元素與鍍層兼容性：可檢測Cl（17）至 U（92）全系列元素，支持最多24 種元素、23 層鍍層的同步分析，覆蓋復雜多層鍍層結構。

• 硬件性能升級：

• 手動 X/Y 平臺：移動范圍≥95×150mm，工作臺面≥420×450mm，滿足多樣品批量放置與快速切換。

• 電動 Z 軸：支持手動 / 自動聚焦，行程≥140mm，適配不同高度（最高 140mm）的復雜形狀樣品。

• DCM 技術（測量距離補償法）：支持0-80mm 深度腔體樣品的遠距離對焦測量，突破傳統(tǒng)接觸式檢測的空間限制。

• 可變高壓調節(jié)：提供 30kV、40kV、50kV 三檔選擇，靈活匹配不同材質與鍍層厚度的檢測需求。

• 高精度準直器：標配 φ0.3mm 圓形準直器，可選 φ0.1mm、φ0.2mm 及 0.3mm×0.05mm 長方形準直器，滿足微米級區(qū)域的精準測量。

• 信號采集系統(tǒng)：采用比例接收器實現(xiàn)高計數(shù)率，搭配高分辨率 CCD 攝像頭（40-160 倍放大），支持激光定位與 LED 照明，實時監(jiān)控測量點并快速校準。